4kwUhQqONLxAYlcuXGVYr78N8Q870qIsaGimBGLA.png

Hệ thống X-Ray kiểm tra cắt lớp

GE - microme|x

Hệ thống với độ phân giải cao 0.2 μm được sử dụng tốt trong ngành bán dẫn (SMT), kích thước vật kiểm tra 680x635mm . Được thiết kế chuyên cho kiểm tra bo mạc...

Đặc Tính Kỹ Thuật

  • Hệ thống kiểm tra X-ray tự động với độ phân giải cấp Micro sử dụng kiểm tra chi tiết cơ khí nhỏ và bo mạch trong công nghiệp bán dẫn và SMT...
  • Độ phân giải 0.5 μm
  • Ống phát tia X công suất lớn Microfocus 180kV/20W
  • Độ phân giải hình ảnh kỹ thuật số đạt 2 megapixels
  • Độ phóng đại (2D): 1970 lần, độ phóng đại (3D): 100 lần
  • Góc quan sát có thể điều chỉnh: 0 -> 70 độ
  • Kích thước kiểm tra mẫu tối đa (H x D): 680 mm x 635 mm; Điều khiển trên 5 trục
  • Khối lượng mẫu kiểm tra tối đa: 10 kg
  • TÙY CHỌN chức năng 3D CT với khả năng quét CT chỉ trong 10s
  • Hệ thống nhỏ gọn dạng cabin phù hợp cho mọi phòng thí nghiệm hoặc dây chuyền sản xuất

Sản phẩm cùng Danh mục

Bạn quan tâm đến sản phẩm?
Cần báo giá sản phẩm hoặc thiết bị?

Hãy liên hệ với đội ngũ chuyên gia của chúng tôi để nhận được sự tư vấn miễn phí và chuyên nghiệp