4kwUhQqONLxAYlcuXGVYr78N8Q870qIsaGimBGLA.png

Hệ thống X-Ray kiểm tra cắt lớp

GE - microme|x

Hệ thống với độ phân giải cao 0.2 μm được sử dụng tốt trong ngành bán dẫn (SMT), kích thước vật kiểm tra 680x635mm . Được thiết kế chuyên cho kiểm tra bo mạc...

Đặc Tính Kỹ Thuật
  • Hệ thống kiểm tra X-ray tự động với độ phân giải cấp Micro sử dụng kiểm tra chi tiết cơ khí nhỏ và bo mạch trong công nghiệp bán dẫn và SMT...
  • Độ phân giải 0.5 μm
  • Ống phát tia X công suất lớn Microfocus 180kV/20W
  • Độ phân giải hình ảnh kỹ thuật số đạt 2 megapixels
  • Độ phóng đại (2D): 1970 lần, độ phóng đại (3D): 100 lần
  • Góc quan sát có thể điều chỉnh: 0 -> 70 độ
  • Kích thước kiểm tra mẫu tối đa (H x D): 680 mm x 635 mm; Điều khiển trên 5 trục
  • Khối lượng mẫu kiểm tra tối đa: 10 kg
  • TÙY CHỌN chức năng 3D CT với khả năng quét CT chỉ trong 10s
  • Hệ thống nhỏ gọn dạng cabin phù hợp cho mọi phòng thí nghiệm hoặc dây chuyền sản xuất

Sản Phẩm Cùng Danh Mục

Không có sản phẩm nào