yf3RTreEkOeiXjO4Fd2tHWOz6Zgww5m0a1DNuh2j.png

Hệ thống X-Ray kiểm tra cắt lớp

GE - v|tome|x s

Hệ thống chụp ảnh cắt lớp độ phân giải cao kiểm tra 2D và cắt lớp 3D với 2 lựa chọn ống phóng Micro CT và Nano CT. Ống phống với 2 lựa chọn: 180kV/15W và 240...

Đặc Tính Kỹ Thuật
  • Hệ thống kiểm tra Xray công nghệ CT phù hợp cho các ứng dụng nghiên cứu vật liệu, mẫu quặng, kiểm tra khuôn mẫu, chi tiết điện tử - bán dẫn, chi tiết cơ khí kim loại, lắp ráp phức tạp...
  • Kết hợp chụp ảnh X-ray kỹ thuật số 2D và công nghệ chụp ảnh cắt lớp CT 3D
  • Ống phát tia X-ray lưỡng cực 240kV/320W (hoặc 160KV/ 320W)
  • Độ phóng đại 2D: 1.46 -> 180 lần; Độ phóng đại 3D: 1.46 -> 100 lần
  • Kích thước nhỏ có thể phát hiện: 1μm; Độ phân giải 3D: < 2 μm
  • Kích thước mẫu kiểm tra tối đa (H x D): 420 mm x 260 mm ; Điều khiển trên 5 trục
  • Khối lượng mẫu kiểm tra tối đa: 10 kg
  • Chức năng tái tạo hình ảnh có kích thước và so sánh với bản vẽ CAD (Tùy chọn)

Sản Phẩm Cùng Danh Mục

Không có sản phẩm nào