103.jpg

Máy phân tích bề mặt không tiếp xúc phổ thông

Taylor Hobson - CCI MP

Hệ thống đo và phân tích bề mặt 3D không tiếp xúc CCI MP là dòng phổ thông cho các ứng dụng đo bề mặt đánh bóng đến

Đặc Tính Kỹ Thuật
  • Độ phân giải cao đến 1048 x 1048 pixel với góc quan sát rộng
  • Công nghệ đính ghép hình ảnh lên đến 100mm cho các trục X, Y và Z
  • Độ lặp lại hiệu dụng (RMS) <0.2 ångström, Độ lặp lại trên mẫu bậc <0.1%
  • Độ phân giải đến ångström trên toàn phạm vi đo
  • Phần mềm điều khiển và phân tích Windows 64-bit đa ngôn ngữ
Thông Số Kỹ Thuật
Overview
System
Measurement type3D non-contact
Measurement modeCoherence Correlation Interferometry (CCI)
Z scannerUltra high precision closed loop piezoless scanner
Objective mount3 position turret
X/Y StageAutomatic
Z stageAutomatic
Performance
Single scan range (Z)2.2 mm as standard (closed loop)
Z-stitching rangeUp to the working distance of the lens (current maximum is 40 mm)
Z-resolution (max)0.01 nm
Noise floor (Z)<0.08 nm="" 0="" 8="" span="">
Repeatability of surface RMS<0.01 nm="" 0="" 1="" span="">
Number of measurement points1024 x 1024
Step height repeatability<0.02%
Surface reflectivity<0.34 % - 100%

Sản Phẩm Cùng Danh Mục

Không có sản phẩm nào