105.jpg

Máy phân tích bề mặt tốc độ cao

Taylor Hobson - CCI MP-HS

Lý tưởng cho việc nghiên cứu, CCI MP-HS đo tất cả các thông số bề mặt từ rất nhám đến rất bóng, cung cấp khả năng đo linh hoạt trên nhiều loại mẫu khác nhau

Đặc Tính Kỹ Thuật

  • Độ phân giải cao đến 1048 x 1048 pixel với góc quan sát rộng
  • Công nghệ đính ghép hình ảnh cao cấp cho các trục X, Y và Z, mở rộng dải đo
  • Độ lặp lại hiệu dụng (RMS) < 0.2 Å, Độ lặp lại trên mẫu bậc < 0.1%
  • Tích hợp bàn chống rung, giảm thiểu các tín hiệu nhiễu tạp, tối ưu hóa hiệu suất cho hệ thống
  • Phần mềm điều khiển và phân tích Windows 64-bit đa ngôn ngữ

Thông Số Kỹ Thuật

Overview
System
Measurement type3D non-contact
Measurement modeCoherence Correlation Interferometry (CCI)
Z scannerUltra high precision closed loop piezoless scanner
Objective mount3 position turret
X/Y StageAutomatic
Z stageAutomatic
Performance
Single scan range (Z)2.2 mm as standard (closed loop)
Z-stitching rangeUp to the working distance of the lens (current maximum is 40 mm)
Z-resolution (max)0.01 nm
Noise floor (Z)<0.05 nm [0.5 Å]
Repeatability of surface RMS<0.01 nm [0.1 Å]
Number of measurement points1024 x 1024
Step height repeatability< 0.02 %
Surface reflectivity<0.34 % - 100%

Sản phẩm cùng Danh mục