102.jpg

Máy phân tích bề mặt kính quang học

Taylor Hobson - CCI Optics

Hệ thống đo và phân tích bề mặt 3D không tiếp xúc CCI Optic được thiết kế đặc biệt cho các ứng dụng kiểm tra kính quang học dựa trên lý thuyết giao thoa sóng...

Đặc Tính Kỹ Thuật
  • Độ phân giải cao đến 2048 x 2048 pixel với góc quan sát rộng
  • Độ phân giải 0.1 ångström cho toàn bộ phạm vi đo
  • Đo trên bề mặt phản xạ từ 0.3% đến 100% một cách dễ dàng
  • Độ lặp lại hiệu dụng (RMS) <0.2 ångström, Độ lặp lại trên mẫu bậc <0.1%
  • Phần mềm điều khiển và phân tích 64-bit đa ngôn ngữ
Thông Số Kỹ Thuật
Overview
ModelCCI Optics RMCCI Optics ADCCI Optics TF
Camera 1M pixel1M pixel 4M pixel
Camera upgrade (HS stitching)OptionalOptionalNot available
Camera upgrade (4M pixel)OptionalOptionalNot available
RoughnessIncludedIncludedIncluded
Step heightOptionalOptionalOptional
Super smoothIncludedOptionalOptional
TalyMap LiteOptionalIncludedOptional
TalyMap GoldOptionalOptionalOptional
TalyMap PlatinumOptionalOptionalOptional
PSDOptionalOptionalOptional
Aspheric analysisNot availableIncludedOptional
Diffractive aspheric analysisNot availableOptionalOptional
Very low reflectivity surface (AR coated)OptionalOptionalIncluded
Thick film analysis (>1.5 μm)Not availableNot availableOptional
Film thickness (>50 nm)Not availableNot availableOptional
StitchingOptionalOptionalOptional
Multi-siteOptionalOptionalOptional
Standard lens20x 10x10x
Other lensesOptionalOptionalOptional
JoystickOptionalOptionalOptional
112 x 78 mm stageIncludedIncludedIncluded
156 x 156 mm stageOptionalOptionalOptional
Internal AVIncludedIncludedIncluded
Active AVNot availableNot availableOptional

Sản Phẩm Cùng Danh Mục

Không có sản phẩm nào