CITMdKrxNmOEWSWxrapbJIzWlfSdtf4LBdG1xGaZ.jpeg
Đo Độ Bóng - Độ Nhám - Biên Dạng Bề Mặt
Taylor Hobson - Surtronic S-100 Series

Thiết bị đo độ nhám cầm tay có hiển thị phổ

Taylor Hobson - Surtronic S-100 Series

Là thiết kế mới nhất của dòng đo độ nhám cơ bản Surtronic, kết hợp màn hình màu cảm ứng 4.3” và pin sạc với khả năng đo liên tục đến 2000 lần.

Đặc Tính Kỹ Thuật
  • Tùy chọn các thông số đo cao cấp để phù hợp với các ứng dụng
  • Kết nối USB để sạc pin, in ấn và lưu trữ bằng thẻ nhớ ngoài với dung lượng không giới hạn
  • Khả năng đo trên nhiều bề mặt và có thể nâng hạ đầu đo dễ dàng
  • Đế cao su chữ V giúp thiết bị bám chặt trên bề mặt cong cũng như phẳng
  • Lớp vỏ cao su bao bọc bên ngoài thiết bị bảo vệ chống va đập
  • Đo 2000 lần cho 1 lần sạc đầy pin
  • Đáp ứng các tiêu chuẩn ISO 4287, ISO 13565-1, ISO 13565-2, ASME 46.1, JIS 0601, N31007
Thông Số Kỹ Thuật
Overview
TechnicalS-116S-128
LanguagesBasic English, French, German, Italian, Spanish
ExtendedCzech, Portuguese, Romanian, Hungarian, Swedish, Russian
AsianJapanese
Data outputOn-screenup to 7 results per page, selectable on-screen graph with XZ axis
PrinterOutput settings, results and high resolution profile graph
PC ConnectionFull data analysis with Talyprofile
Data storageInternal100 measurement results, 1 raw profile
USB (4GB supplied)>39,000 raw profiles, up to 100,000 results per batch (>70 batches)
PC connectionUnlimited data storage
SPC / statsInternalOptionalMin, Max, Mean, StdDev of stored results
USB (4GB supplied)OptionalASCII export of all results for SPC
PC connectionfull SPC and tollerancing of all parameters using Talyprofile software
BatteryChargerUSB 5v 1A 110-240VAC 50/60Hz
Charging time4 hours
Battery life 2000 measurements
Standby time5000 hours
InstantOnmax 1 sec from standby to ready to measure
Auto sleep function30 sec - 6 hours
Measurement capability S-116 S-128
Gauge Range 200 µm / 100 µm / 10 µm 400 µm / 100 µm / 10 µm
Resolution 100 nm / 20 nm / 10 nm 50 nm / 10 nm / 5 nm
Noise floor (Ra) 250 nm / 150 nm / 100 nm 150 nm / 100 nm / 50 nm
Repeatability (Ra) 1 % of value + noise 0.5 % of value + noise
Pickup type Inductive
Gauge force 150-300 mg
Stylus tip radius 5 µm (200 µin) default / 2 µm (80 µin) or 10 µm (400 µin) optional
Measurement type Skidded
Calibration Process Automated software calibration routine
Standards Able to calibrate to ISO 4287 roughness standards
Analysis Filter cut-off 0.25 mm / 0.8 mm / 2.5 mm
Filter type 2CR / Gaussian
Evaluation length 0.25 mm - 17.5 mm (0.01 in - 0.70 in) 0.25 mm - 25.0 mm (0.01 in - 1.00 in)
Max X axis range 17.5 mm 25.5 mm
Speed Measuring speed 1 mm / sec (0.04 in / sec)
Returning speed 1.5 mm / sec (0.06 in / sec)

Sản Phẩm Cùng Danh Mục

Không có sản phẩm nào