aE02OxSzYaW2HbcyJwEzV8dAOm9jnVowsEFJ0s4j.png

Hệ thống X-Ray kiểm tra cắt lớp

GE - Nanotom M

Hệ thống chụp ảnh cắt lớp Nano (CT) với 2 lựa chọn Micro CT và Nano CT, 3D. Hệ thống với độ phân giải không gian cao với mẫu lớn. Kiểm tra tự động với quét C...

Đặc Tính Kỹ Thuật
  • Hệ thống kiểm tra Xray công nghệ CT phù hợp cho các ứng dụng nghiên cứu vật liệu, mẫu quặng, kiểm tra khuôn mẫu, chi tiết điện tử - bán dẫn, chi tiết cơ khí kim loại, lắp ráp phức tạp...
  • Kết hợp chụp ảnh X-ray kỹ thuật số 2D và công nghệ chụp ảnh cắt lớp CT
  • Ống phát tia X-ray lưỡng cực 180kV/15W
  • Độ phóng đại 2D: 1.5 ->100 lần
  • Kích thước nhỏ có thể phát hiện: 200nm; Độ phân giải 3D: < 500 nm
  • Kích thước mẫu kiểm tra tối đa (H x D): 150 mm x 120 mm (/250mm x 240mm); Điều khiển trên 5 trục
  • Khối lượng mẫu kiểm tra tối đa: 2 kg (/3 kg)
  • Chức năng tái tạo hình ảnh có kích thước và so sánh với bản vẽ CAD (Tùy chọn)

Sản Phẩm Cùng Danh Mục

Không có sản phẩm nào