Hệ thống X-Ray kiểm tra cắt lớp
GE - Nanotom M
Hệ thống chụp ảnh cắt lớp Nano (CT) với 2 lựa chọn Micro CT và Nano CT, 3D. Hệ thống với độ phân giải không gian cao với mẫu lớn. Kiểm tra tự động với quét C...
Gọi (+84) 283 894 0623 để được tư vấn.
Đặc Tính Kỹ Thuật
- Hệ thống kiểm tra Xray công nghệ CT phù hợp cho các ứng dụng nghiên cứu vật liệu, mẫu quặng, kiểm tra khuôn mẫu, chi tiết điện tử - bán dẫn, chi tiết cơ khí kim loại, lắp ráp phức tạp...
- Kết hợp chụp ảnh X-ray kỹ thuật số 2D và công nghệ chụp ảnh cắt lớp CT
- Ống phát tia X-ray lưỡng cực 180kV/15W
- Độ phóng đại 2D: 1.5 ->100 lần
- Kích thước nhỏ có thể phát hiện: 200nm; Độ phân giải 3D: < 500 nm
- Kích thước mẫu kiểm tra tối đa (H x D): 150 mm x 120 mm (/250mm x 240mm); Điều khiển trên 5 trục
- Khối lượng mẫu kiểm tra tối đa: 2 kg (/3 kg)
- Chức năng tái tạo hình ảnh có kích thước và so sánh với bản vẽ CAD (Tùy chọn)